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產品名稱：OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA
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產品廠商：OTSUKA大塚電子
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀

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代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業產品，聯系人：張小姐

聯系電話（微信）：15902189399

nanoSAQLA是一種采用動態光散射法（DLS法）的粒度測量裝置（粒徑0.6nm~10μm）。
配備各種功能，進一步追求質量控制的需求。
它實現了一種新的光學系統，支持從精益~濃縮系統到實驗室必不可少的寬濃度范圍內的多樣品測量，重量輕，小型化，并以1分鐘高速測量為標準。

此外，它是一種非浸入式的新產品，不受污染的影響，并且標配“連續測量5個樣品”，無需自動進樣器。

型	多樣品納米粒度測量系統
測量原理	動態光散射（光子相關法）
光源	高功率二極管激光器（660nm，70mW） ^*1
探測器	高靈敏度 APD
連續測量	*多 5 個樣品
測量范圍	0.6納米~10微米
濃度范圍	0.00001 ~ 40% ^*2
溫度范圍	0 ~ 90°C （帶溫度梯度功能） ^*3
樣品容量	方形電池： 1.2mL~，微量電池： 20μL~
大小	寬240 X 長480 X 高375毫米
功耗	交流 100~240V 50/60Hz、250VA
重量	約 18 公斤
軟件	平均粒徑分析（累積量法）
	粒度分布分析（Marquardt/Contin/NNLS/Unimodal）
	粒度分布覆蓋
	負相關函數和殘差圖
	粒度監測儀
	粒度顯示范圍（0.1~10⁶ 納米）
	分子量計算功能
	兼容 21 CFR 第 11 部分 ^*4
選擇	痕量細胞（20μL起），熒光濾光片

*1 本設備被歸類為激光**標準（JIS C6802）的1類。 *2 PS乳膠顆粒：0.00001~10%，牛磺膽酸：~40%

*3 使用帶有貼片細胞支架的烏鴉細胞時。
使用5桶電池支架或一次性電池時，15~40°C
*4可選

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