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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo
OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300
詳情介紹：
產品信息
特征
- 兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
- 使用反射光譜分析薄膜厚度
- 緊湊、低成本、非接觸式、無損和高精度測量
- 易于設置條件和測量操作！ 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等可實現多種薄膜厚度測量
- 非線性*小二乘膜厚分析算法可實現光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）
測量項目
- **反射率測量
- 薄膜厚度分析（10層）
- 光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）
測量對象
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功能膜、塑料：
透明導電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。 -
半導體 化合物半導體
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學材料
濾光片、增透膜等 -
FPD
液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封膠）等。 -
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等
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