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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計(jì)，它通過簡單的操作實(shí)現(xiàn)了高精度光學(xué)干涉測量的薄膜厚度測量。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備安裝在主體中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹：
- 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
- 使用反射光譜分析薄膜厚度
- 實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
- 簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等，可以進(jìn)行多種膜厚測量。
- 非線性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）。
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