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產品詳情
簡單介紹：
能夠從低亮度到高亮度進行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計。
大冢電子獨特的光譜光學設計和信號處理電路采用電子冷卻線陣傳感器，實現了在寬亮度范圍和波長范圍內的低噪聲和高精度測量。
詳情介紹：
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采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）
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0.005Cd /米2從400,000Cd的超低亮度/米2，可以測量到的高強度
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支持 CIE 推薦的寬波長范圍（355nm 至 835nm）
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開創的光學系統降低了偏振誤差（<1%）
，甚至可以高精度測量LCD等具有偏振特性的樣品。 -
包括通信時間在內，*少可以在 1 秒內進行高速測量。
（在連續測量的情況下，可以以至少約 20 毫秒 / 次的速度進行更快的測量。） -
它支持較寬的亮度范圍，而無需改變測量角度。
（測量角度為2°時，0.005 cd / m 2至4,000 cd / m 2） -
頻率照明光源的高精度和穩定測量是可能的。
（通過輸入照明頻率，曝光時間自動設置為照明周期的整數倍。）我們
還有一系列可以支持響應測量的產品。* -
與“ CIECAM 02 標準”兼容的輸出也是可能的，這是一種具有可見顏色的模型。*
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與考慮眼睛的中間視覺（浦肯野現象）的“ CIE200：2011標準”兼容的輸出也是
可能的。*
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