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OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統
紫外LED的配光特性.。
·根據放射強度/放射光照度的配光評價。
·通過分光配光評價每個波長的放射強度。
使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。
特長:
通過分光配光對紫外光進行高精度測定。
評估光束分布到紫外光的*大光度、光束打開和光束通量。
覆蓋從紫外到可見的波長范圍。
支持從LED芯片到模塊、應用等多種樣本。
軟件集中控制電源和測量儀表
測試項目：
配光-紫外輻射強度或輻射強度下的角度分布。
*大光度，光束打開，光束通量。
輻照度、輻射強度和輻射強度。
全光束。
分鐘光亮數據。
以光分布測量系統為準的測量項目。
全光束，色度坐標xy，uv，u‘v。
相關色溫、Duv、主波長、刺激純度。
演色性評價Ra，R1~R15。
峰值波長、半寬度
OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000
＊1 ： 測定時にサンプルを設置する向き。
ベースダウン：水平面上への設置
ベースサイド：鉛直面上への設置
＊2 ： 配光測定における測定波長範囲は250～850nm
＊3 ： オプション品につきましては 全光束測定システム の仕様ページをご參照ください
裝置構成
卓上タイプ裝置。水平面に対してLEDチップを配置して測定します。
受光部側1軸、サンプル側1軸の駆動系です。
平面にサンプルが設置できるため測定再現性や位置調整が簡単です。
LEDチップなどサンプルが小さく取り付けが難しいものの測定に向いています。
卓上タイプ裝置。一般的な配光裝置の光學系です。
受光部とサンプル部の高さが同じでサンプル側が2軸の駆動系をもちます。
チップタイプから小型のモジュールサンプルまで広く取り扱えます。
大型裝置。設置には暗室を一部屋使うほどの場所が必要です。
投光器などの大型で重量のある光源を測定する場合の裝置です。
測定例
UV-LED是分光配光測定的結果.。
配光曲線以放射強度為基準進行描繪。
從通過配光測定得到的各θ的分光放射強度中，將球帶系數法。
通過使用，能夠取得從UV-LED被放射的分光全放射束.
