熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場(chǎng)
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測(cè)系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
日本大冢高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)RH300 日本大冢高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)RH300 日本大冢高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)RH300
-
日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100
-
日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測(cè)量 分子直徑測(cè)量 分子量測(cè)量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測(cè)定儀 zeta電位儀 zeta電位測(cè)試 zeta電位測(cè)量?jī)x zeta電位測(cè)試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測(cè)定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 ze
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測(cè)量 分子直徑測(cè)量 分子量測(cè)量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測(cè)定儀 zeta電位儀 zeta電位測(cè)試 zeta電位測(cè)量?jī)x zeta電位測(cè)試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測(cè)定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 ze
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測(cè)量 分子直徑測(cè)量 分子量測(cè)量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測(cè)定儀 zeta電位儀 zeta電位測(cè)試 zeta電位測(cè)量?jī)x zeta電位測(cè)試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測(cè)定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 zeta電位分析儀 粒徑分析儀
-
OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 量子點(diǎn)材料具有根據(jù)粒子直徑不同發(fā)光波長(zhǎng)發(fā)生變化的特性。 在本系統(tǒng)中，在評(píng)價(jià)粒子直徑以及分散穩(wěn)定性的同時(shí)，也可以對(duì)熒光特性進(jìn)行評(píng)價(jià)。 OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)
