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  • 根據檢測目的自由混合發光顏色 在一臺照明中復合安裝紅色、藍色和綠色 LED。 紅、藍、綠三波長復合，成為可見光的全彩照明，可覆蓋非常寬的波長范圍。 由于可以獨立調光每個波長，因此可以實現微妙的復合照明顏色。
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  • 模擬同軸投影照明，實現高照度、高均勻性、緊湊的外殼 半鏡可以照射到與相機軸相同的軸上。 與 IFVA 系列相比，半鏡的改進大大提高了分辨率。 由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
  • 模擬同軸投影照明，實現高照度、高均勻性、緊湊的外殼 半鏡可以照射到與相機軸相同的軸上。 與 IFVA 系列相比，半鏡的改進大大提高了分辨率。 由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
  • 直模擬同軸落射照明，實現高光、高均勻度和緊湊的外殼 使用半透半反鏡，可以在垂直于攝像機軸的軸上進行照射和成像。 與 IFVA 相比，在高度方向上的空間更少，從而節省空間。 由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
  • 直模擬同軸落射照明，實現高光、高均勻度和緊湊的外殼 使用半透半反鏡，可以在垂直于攝像機軸的軸上進行照射和成像。 與 IFVA 相比，在高度方向上的空間更少，從而節省空間。 由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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  • 直模擬同軸落射照明，實現高光、高均勻度和緊湊的外殼 使用半透半反鏡，可以在垂直于攝像機軸的軸上進行照射和成像。 與 IFVA 相比，在高度方向上的空間更少，從而節省空間。 由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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