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TOPCON拓普康色度亮度計 BM-7AC

? 高速0.5秒的測定速度，提高了測定效率 ? 簡便地通過2種方法進行機差補正 ? 模擬輸出(選配),對應X2,Y,Z的3通道模擬輸出，通過示波器能記錄，觀測波形
TOPCON拓普康色度亮度計 BM-5AC

? 可選擇切換5個測定角，從細微面到大面積均能測定 ? 內(nèi)置模擬輸出端口，連接示波器后，可記錄數(shù)據(jù)、觀測波形 ? *高0.05ms的高速響應，從而能夠觀測閃爍光源的上升、下降響應特性
TOPCON拓普康亮度色度均勻性測定器 UA-10

? 高達`03秒的高速測定：通過*優(yōu)化的測定處理方式 ? 高精度色度測定：采用TOPCON獨有的校正補正技術(shù) ? 小型輕量化設計：產(chǎn)品小型輕量化設計。為削減檢測生產(chǎn)流水線構(gòu)造成本做出貢獻 ? 六種的產(chǎn)品變化：二種類的亮度測定范圍四種類的鏡筒畫角
TOPCON拓普康2維色度亮度計 UA-200

? 色度精度高：使用新開發(fā)的光學濾片，實現(xiàn)了高達±0.008以內(nèi)的高色度精度 ? *快1秒的高速測定：通過測定運算的*優(yōu)化處理，大幅縮短了測定時間*單純測定亮度時 ? 搭載122萬像素CCD： *多可測1,280×960個像素 ? 測定功能擴充：測定程序增加了6種功能，大幅提高了測定與評價的實用性
TOPCON拓普康2維色度亮度計 UA-200A

? 寬廣的測定范圍 : 0.005～1,000,000cd/m2 ? 追加Layer功能 : 可一次測量低亮度到高亮度 ? 色度精度高 : 使用新開發(fā)的光學濾片，實現(xiàn)了高達±0.008以內(nèi)的高色度精度 ? *快1.5秒的高速測定 : 通過測定運算的*優(yōu)化處理，大幅縮短了測定時間*單純測定亮度時 ? 搭載140萬像素CCD : *多可測1,376×1,024個像素 ? 測定功能擴充 : 測定程序增加了6種功能，大幅提高了測定與評價的實用性
TOPCON拓普康近紅外分光輻射計 SR-NIR

? 能測定從FPD到微弱發(fā)光的近紅外領(lǐng)域。 ? 高精度測定近紅外領(lǐng)域(600～1030nm)的分光分布。 ? 和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時，能夠測定可見光～近紅外光（380～1030nm）的分光分布。
TOPCON拓普康分光輻射計 SR-3AR

? 分光測光方式下的高速度、高精度優(yōu)良值測定。 ? 無需使用輔助鏡，也能實現(xiàn)細微面、低亮度領(lǐng)域的高精度測定。 ? 電動切換測定角(2°/1°/0.2°/0.1°)。 ? 高精度測定頻閃光源（搭載同步測定功能、積分時間延期功能）。 ? 使用標配應用軟件，可進行豐富的數(shù)據(jù)處理及控制主機。
TOPCON拓普康超低亮度分光輻射計 SR-UL1R

? 超低亮度儀器，*低可測0.001 cd/m2 。 ? 量程寬廣，量程為0.001 – 300,000 cd/m2。 ? 無需使用輔助鏡，即能夠高精度測定細微面的低亮度領(lǐng)域。 ? 高精度測定頻閃光源（搭載同步測定功能、積分時間延期功能） ? 使用標配應用軟件，能夠進行豐富的數(shù)據(jù)處理及主機控制。
TOPCON拓普康超低亮度分光輻射計 SR-UL2

? 高速測定超低亮度 (0.0005 cd/m2 – ) ? 量程寬廣。量程為 (0.0005 – 300,000cd/m2) ? 無需使用輔助鏡，即能夠測定細微面的超低亮度。 ? 搭載同步測定功能及積分時間延時功能，因而能夠高精度測定頻閃光源。 ? 使用標配應用軟件，能夠進行豐富的數(shù)據(jù)處理及控制主機。
TOPCON拓普康分光輻射計 SR-LEDH

? 搭載LAN功能，從而實現(xiàn)生產(chǎn)線所必須的超高速測定（約0.4秒）。 ? 采用新型光學系統(tǒng)，減少了測定角內(nèi)的靈敏度不均勻。 ? 超薄機身設計，適合搭載自動測量機臺，在產(chǎn)線上使用。 ? 標準配置軟件開發(fā)包。(SDK) * 軟件開發(fā)包(SDK) 方便客戶自行編寫LAN通信軟件時所使用的開發(fā)包。由頭文件、程序庫、抽樣程序等組成。調(diào)出所提供的模塊程序庫函數(shù)后，無需考慮網(wǎng)絡程序和通信協(xié)議，即可進行軟件的開發(fā)。此外，無需使用SDK，可通過客戶自行開發(fā)的應用軟件，依靠通信協(xié)議，由同一網(wǎng)絡內(nèi)的其他電腦來控制，也可以用1臺電腦來控制多臺本產(chǎn)品。
TOPCON拓普康分光輻射計 SR-LEDW

? 量程特別寬廣，寬至0.0005～5,000,000cd/m2。 ? 搭載FIX模式，可大幅縮短生產(chǎn)線上的連續(xù)測定時間(和本公司原有產(chǎn)品比較，可縮短1/2時間) ? 提升了靈敏度的均衡性能，從而能輕松測定LED芯片。 ? 裝上照度接口（選配件）后，還能夠測定照度（lx）。
TOPCON拓普康分光輻射計 SR-LEDW-5N

? 量程特別寬廣，寬至0.0005～5,000,000cd/m2。 ? 搭載FIX模式，可大幅縮短生產(chǎn)線上的連續(xù)測定時間(和本公司原有產(chǎn)品比較，可縮短1/2時間) ? 提升了靈敏度的均衡性能，從而能輕松測定LED芯片。 ? 裝上照度接口（選配件）后，還能夠測定照度（lx）。 ? 光譜波寬、半波寬5nm
TOPCON拓普康分光輻射計SR-5A

具HDR，高速，操作性新時代SR series
TOPCON拓普康2維分光輻射計 SR-5000 / 5000H

分光光譜解析影像。開發(fā)出眾所期待的2維的分光輻射計
TOPCON拓普康２維分光輻射計 SR-5100

分光光譜解析影像。開發(fā)出眾所期待的成像的分光輻射計
TOPCON拓普康- 輝度計BM-100

BM-100 TOPCON拓普康- 輝度計TOPCON拓普康- 輝度計BM-100TOPCON拓普康- 輝度計BM-100TOPCON拓普康- 輝度計BM-100

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